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Étude du rôle de la microstructure sur la résistance à la fissuration par fatigue des alliages TiAl à l'aidede la technique de corrélation d'images numériques de mouchetis

Published online by Cambridge University Press:  04 November 2005

Fabienne Lagattu ,
Anne-Lise Gloanec ,
Gilbert Hénaff  and
Jean Brillaud
Fabienne Lagattu
Affiliation:
Laboratoire de Mécanique et de Physique des Matériaux (LMPM), UMR CNRS 6617, ENSMA, BP 109, 86960 Futuroscope Cedex, France
Anne-Lise Gloanec
Affiliation:
Laboratoire de Mécanique et de Physique des Matériaux (LMPM), UMR CNRS 6617, ENSMA, BP 109, 86960 Futuroscope Cedex, France
Gilbert Hénaff
Affiliation:
Laboratoire de Mécanique et de Physique des Matériaux (LMPM), UMR CNRS 6617, ENSMA, BP 109, 86960 Futuroscope Cedex, France
Jean Brillaud
Affiliation:
Laboratoire de Mécanique et de Physique des Matériaux (LMPM), UMR CNRS 6617, ENSMA, BP 109, 86960 Futuroscope Cedex, France
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Abstract

Cette étude porte sur la fissuration par fatigue des alliages TiAl élaborés par fonderie et par métallurgie des poudres (MdP). L'alliage issu de fonderie présente une microstructure essentiellement lamellaire, tandis que celui provenant de la MdP possède une microstructure majoritairement monophasée γ à grains équiaxes. Afin de mieux comprendre les mécanismes de propagation des fissures dans ces deux microstructures, le champ complet des déformations surfaciques a été mesuré en pointe de fissure au cours d'un essai de fissuration par fatigue. Pour cela, une méthode optico-numérique basée sur l'intercorrélation directe d'images numériques de mouchetis a été utilisée. Les résultats obtenus montrent que l'alliage TiAl à microstructure lamellaire présente une meilleure capacité d'accommodation des surdéformations en pointe de fissure. Ces résultats permettent d'expliquer la meilleure résistance à la fissuration de cet alliage.

Keywords

FatigueTiAl alloyscorrelationcrack propagationstrainFatiguealliages TiAlcorrélationfissurationdéformation
Type
Research Article
Information
Mechanics & Industry , Volume 6 , Issue 5 , September 2005 , pp. 499 - 507
Copyright
© AFM, EDP Sciences, 2005

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