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Recent Developments in Stress Analysis by Diffraction Methods

Published online by Cambridge University Press:  06 March 2019

V. Hauk
V. Hauk*
Affiliation:
Institut für Werkstoffkunde, Rheinisch Westfälische Technische Hochschule Aachen, Germany
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Abstract

Starting in Germany (Garmisch Partenkirchen, 1986) we had the 1st ICRS (Int. Conf. on Residual Stresses). The second was held in France (Nancy, 1988), the third in Japan (Tokushima 1991). In all areas, the diffraction measurements furnish exceptional contributions, and in many cases they are the only methods capable of solving problems. Because of the importance of the diffraction methods, the literature on residualstress analysis (RSA) has enlarged in the last years, Figure 1.

Type
VII. Stress Determination by Diffraction Methods
Information
Advances in X-Ray Analysis , Volume 35 , Issue A: First Pacific-International Congress on X-ray Analytical Methods (PICXAM). Fortieth Annual Conference on Applications of X-ray Analysis, August 7-16, 1991 , 1991 , pp. 449 - 460
Copyright
Copyright © International Centre for Diffraction Data 1991

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