Hostname: page-component-586b7cd67f-gb8f7 Total loading time: 0 Render date: 2024-11-26T12:24:41.066Z Has data issue: false hasContentIssue false
  • English
  • Français

A Tomographic Atom Probe laser assisted by a flexible optical system

Published online by Cambridge University Press:  30 July 2021

Jonathan Houard ,
Angela Vella ,
Gérald Da Costa ,
Ivan Blum ,
Fabien Delaroche ,
Charly Vaudolon ,
François Vurpillot  and
Lorenzo Rigutti
Jonathan Houard
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
Angela Vella
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
Gérald Da Costa
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
Ivan Blum
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
Fabien Delaroche
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
Charly Vaudolon
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
François Vurpillot
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
Lorenzo Rigutti
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France

Abstract

An abstract is not available for this content so a preview has been provided. As you have access to this content, a full PDF is available via the ‘Save PDF’ action button.
Image of the first page of this content. For PDF version, please use the ‘Save PDF’ preceeding this image.'
Type
Advanced Application of Atom Probe Tomography: Specimen preparation, Instrumentation, and Data analysis
Information
Microscopy and Microanalysis , Volume 27 , Supplement S1 , August 2021 , pp. 1260 - 1261
Check for updates
Copyright
Copyright © The Author(s), 2021. Published by Cambridge University Press on behalf of the Microscopy Society of America

References

Kelly, T. F., et al. , Current Opinion in Solid State and Materials Science 18 (2014), Pages 81-89Google Scholar
Houard, J., et al. , Review of Scientific Instruments 91, 083704 (2020)CrossRefGoogle Scholar
Vella, A., et al. , Sci. Adv. 7, eabd7259 (2021).Google Scholar