Hostname: page-component-586b7cd67f-rdxmf Total loading time: 0 Render date: 2024-11-23T01:09:33.384Z Has data issue: false hasContentIssue false
  • English
  • Français

Resistive Switching Studies of ReRAM Devices by In-Situ TEM

Published online by Cambridge University Press:  07 February 2019

Gemma Martín ,
Mireia B. González ,
Aïda Varea ,
Oriol Blázquez ,
Giovanni Vescio ,
Francesca Campabadal ,
Sergi Hernández ,
Albert Cirera ,
Blas Garrido  and
Sònia Estradé
...Show all authors
Gemma Martín
Affiliation:
MIND/IN2UB, Departament d'Enginyeria Electrònica i Biomèdica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès 1, 08028 Barcelona, Spain.
Mireia B. González
Affiliation:
Institut de Microelectrònica de Barcelona, IMB-CNM (CSIC), Campus UAB, 08193 Bellaterra, Spain.
Aïda Varea
Affiliation:
MIND/IN2UB, Departament d'Enginyeria Electrònica i Biomèdica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès 1, 08028 Barcelona, Spain.
Oriol Blázquez
Affiliation:
MIND/IN2UB, Departament d'Enginyeria Electrònica i Biomèdica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès 1, 08028 Barcelona, Spain.
Giovanni Vescio
Affiliation:
MIND/IN2UB, Departament d'Enginyeria Electrònica i Biomèdica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès 1, 08028 Barcelona, Spain.
Francesca Campabadal
Affiliation:
Institut de Microelectrònica de Barcelona, IMB-CNM (CSIC), Campus UAB, 08193 Bellaterra, Spain.
Sergi Hernández
Affiliation:
MIND/IN2UB, Departament d'Enginyeria Electrònica i Biomèdica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès 1, 08028 Barcelona, Spain.
Albert Cirera
Affiliation:
MIND/IN2UB, Departament d'Enginyeria Electrònica i Biomèdica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès 1, 08028 Barcelona, Spain.
Blas Garrido
Affiliation:
MIND/IN2UB, Departament d'Enginyeria Electrònica i Biomèdica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès 1, 08028 Barcelona, Spain.
Sònia Estradé
Affiliation:
MIND/IN2UB, Departament d'Enginyeria Electrònica i Biomèdica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès 1, 08028 Barcelona, Spain.
Francesca Peiró
Affiliation:
MIND/IN2UB, Departament d'Enginyeria Electrònica i Biomèdica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès 1, 08028 Barcelona, Spain.
Albert Cornet
Affiliation:
MIND/IN2UB, Departament d'Enginyeria Electrònica i Biomèdica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès 1, 08028 Barcelona, Spain.

Abstract

An abstract is not available for this content so a preview has been provided. As you have access to this content, a full PDF is available via the ‘Save PDF’ action button.
Image of the first page of this content. For PDF version, please use the ‘Save PDF’ preceeding this image.'
Type
Materials Science (Posters)
Information
Microscopy and Microanalysis , Volume 25 , Issue S1: Proceedings of CISCEM 2018 - the 4th Conference on In-Situ and Correlative Electron Microscopy , February 2019 , pp. 71 - 72
Copyright
Copyright © Microscopy Society of America 2019 

References

References:

[1]Kwon, Deok-Hwang et al. , Nature Nanotechnology 5 (2010), p. 148.Google Scholar
[2]Liu, Qi et al. , Adv Mater 24 (2012), p. 1844.Google Scholar
[3]Wu, Xing et al. , Adv Electron Mater 1 (2015), p. 11.Google Scholar
[4]Wu, Xing et al. , J Appl Phys 113 (2013), p. 114503.Google Scholar
[5]Blázquez, Oriol et al. , Nanotechnology 29 (2018), p. 235702.Google Scholar
[6]Martín, Gemma et al. , Appl Phys Express 11 (2018), p. 014101.Google Scholar